V Юбилейный Международный Форум «Микроэлектроника 2019»

С 30 сентября по 05 октября в Алуште прошел V Юбилейный Международный Форум «Микроэлектроника 2019».

С приветственным словом ко всем участникам обратились заместитель министра промышленности и торговли Российской Федерации Олег Евгеньевич Бочаров, директор Департамента радиоэлектронной промышленности, к.э.н. Шпак Василий Викторович, почётный президент международной научной конференции «Микроэлектроника – ЭКБ и электронные модули», руководитель Межведомственного совета главных конструкторов по электронной компонентной базе Российской Федерации, генеральный директор АО «НИИМЭ» Красников Геннадий Яковлевич. Все они отметили необходимость проведения такого рода мероприятий для успешной кооперации разработчиков и потребителей микроэлектронной продукции, а также пожелали всем продуктивной работы в ходе программы Форума.

Деловая программа Форума началась с панельной дискуссии о роли микроэлектроники в реализации стратегии развития электронной промышленности до 2030 года. Модератором выступил Агеев Александр Иванович, генеральный директор Института экономических стратегий. Ключевыми спикерами стали директор центра по управлению технологическими партнерствами ПАО «Ростелеком» Гайфутдинов Эльдар Романович, директор ДРЭП Минпромторга РФ Шпак Василий Викторович, директор «МНИИРИП» Куцько Павел Павлович, генеральный директор АО «ЦНИИ «Электроника» Фомина Алёна Владимровна, генеральный директор ПАО «МИКРОН» Хасьянова Гульнара Шамильевна.

В заключительный день работы Форума выступили с докладами приглашенные участники из малазийской компании Key ASIC Bhd, которые рассказали своё видение развития сообщества устойчивых и коммерческих фаблесс-разработчиков, тенденциях рынка полупроводников, методах трансфера и коммерциализации полупроводниковых технологий, а также о производственных тенденциях интегрированной фотоники.

На основании предложений и мнений всех участников и делегатов по результатам проведённой работы Международный Форум «Микроэлектроника 2019» получил высокую оценку со стороны участников.